Raman/AFM/SNOM

Grâce au concept modulaire de microscopes WITec, le scanage des échantillons, la microscopie optique de haute résolution et la microscopie Raman peuvent être utilisés individuellement ou combinés en un seul appareil. Cela garantit une flexibilité maximale, obtenue à l’aide d’une large gamme d'applications. 

La configuration du microscope fonctionne sur le principe modulaire: il est par exemple possible de commencer l’analyse avec un microscope confocal Raman et continuer avec la microscopie à force atomique (Atomic Force Microscopy, AFM). 

Par conséquent, il est possible d’obtenir, à l’aide d’un seul dispositif, des informations chimiques et structurelles (par microscopie Raman et microscopie à force atomique) du même fragment d’échantillon et associer ces informations de façon cohérente.

Pour extraire des informations optiques à haute résolution, le microscope peut également être équipé de la technique de microscopie en champ proche (Scanning Near-field Optical Microscopy, SNOM). Ces techniques de microscopie font possible l’analyse non destructive des échantillons sur l'échelle du nanomètre, avec peu, voire pas de préparation de l'échantillon. 

Par la grande flexibilité et la facilité d'utilisation des microscopes, les techniques d'investigation peuvent être parfaitement adaptées aux caractéristiques de l'échantillon, optimisant ainsi le résultat.