MFA / AFM

Microscopie Raman AFM

Microscopie à force atomique puissante et facile à utiliser pour les sciences des matériaux, les sciences de la vie et la nanotechnologie.

Le système alpha300 A AFM comprend un microscope scientifique, microscope optique qui convient parfaitement à l'observation d'échantillons de première classe et à l'examen d'échantillons à haute résolution. Un objectif AFM spécial permet de voir simultanément, en haute résolution, l'échantillon et le cantilever de pointe AFM. Cela permet de positionner le cantilever avec précision et d'adapter le dispositif de mesure à l'échantillon spécifique. Grâce à la convivialité et à la polyvalence de l'alpha300 A, de nombreuses questions scientifiques peuvent être traitées avec succès.

Le mode contact, AC, force magnétique, nanolitographie et température l'alpha300 A permet d'effectuer des mesures en mode contrôlé. Une flexibilité maximale est ainsi garantie sur toute la gamme des applications AFM.

L'alpha300 A est parfaitement adapté à l'étude des structures topographiques en très haute résolution. Il fournit les meilleurs résultats, indépendamment de l'environnement (p. ex. air, liquide) ou des caractéristiques de l'échantillon. Même les échantillons exigeants ou mous peuvent être examinés. L'alpha300 A est en outre équipé du mode "Pulsed Force". Il est ainsi possible de représenter à l'échelle nanométrique les propriétés de la surface, telles que l'adhérence locale ou la rigidité, en même temps que la topographie. Cela est particulièrement important pour la recherche sur les matériaux.

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