Raman/AFM/SNOM

Durch den modularen Aufbau der WITec Mikroskope können Scanning Probe-, hochauflösende optische und Raman-Mikroskopietechniken wahlweise einzeln oder in einem Gerät kombiniert angeboten werden. Dadurch wird höchste Flexibilität über ein breites Spektrum an Anwendungsmöglichkeiten erreicht.

Der Mikroskopaufbau funktioniert dabei nach dem Baukastenprinzip: es ist beispielsweise möglich, mit einem konfokalen Raman-Mikroskop zu starten, und dies später mit Rasterkraft-Mikroskopie (Atomic Force Microscopy, AFM) zu erweitern. So können mit nur einem einzigen Gerät chemische Raman- und strukturelle AFM-Information aus der gleichen Probenregion erhalten und in Zusammenhang gebracht werden. Für hochauflösende optische Informationen kann das Mikroskop auch zusätzlich mit Nahfeldmikroskopie-Technik (Scanning Near-field Optical Microscopy, SNOM) ausgestattet werden.

Mit diesen Mikroskopietechniken sind zerstörungsfreie Proben-Untersuchungen im Nanometermassstab, ganz ohne oder nur mit geringer Probenaufbereitung, möglich. Durch die hohe Flexibilität und Anwenderfreundlichkeit der Mikroskope kann die Untersuchungstechnik perfekt an die Probeneigenschaften angepasst  und so das Ergebnis optimiert werden.

Typische Anwendungsbeispiele finden sich in allen Bereichen der Oberflächen- und Materialwissenschaften, der Geowissenschaften, der Life Sciences, der pharmazeutischen Forschung, der Nanophotonik sowie der Nanotechnologie.