SNOM

Raman Mikroskopie SNOM

SNOM - grenzenloses Imaging mit überragendem Auflösungsvermögen.

WITec‘s alpha300 S beinhaltet ein konfokales Mikroskop, ein optisches Nahfeldmikroskop (Scanning Near-field Optical Microscope, SNOM) und ein Atomic Force Mikroskop (AFM) kombiniert in einem einzigen Gerät. Durch simples Drehen des Objektivrevolvers kann zwischen konfokaler Mikroskopie, SNOM und AFM gewechselt werden.

Im alpha300 S kommen einzigartige, patentierte Cantilever-SNOM-Sensoren zum Einsatz. Diese werden durch ein spezielles Verfahren micro-technisch hergestellt und übertreffen signifikant die bisher bekannten, faseroptischen Sonden in Auflösung, Transmission, Bedienerfreundlichkeit und Zuverlässigkeit.

Am SNOM-Cantilever ist eine Hohlpyramide mit einer Öffnung an der Spitze befestigt, durch die der Laserstrahl fokussiert und das optische Nahfeld generiert wird. Ausserdem dient der Cantilever zur Distanzkontrolle zwischen Probe und Halterung nach dem Prinzip der Strahlenablenkung (beam deflection principle). Dadurch können, zeitgleich mit den optischen Bildern, topographische Informationen gesammelt und dargestellt werden.